變頻抗干擾介質(zhì)損耗測量儀

概述

變頻抗干擾介質(zhì)損耗測量儀是一種新型的智能化變頻介質(zhì)損耗測試儀。隨著城鄉(xiāng)電網(wǎng)改造的不斷深入，更高電站越來越多，倒相法、移相法，已不能滿足現(xiàn)場測試需求，異頻測量（變頻），把50HZ變成其它頻率，可以排除干擾。但由于電子技術(shù)的限制，其變頻后的頻率一般離50HZ有一定距離，其50Hz條件下的電容值cx及tgδ 值是換算模擬出來的，與真實工頻測試有一定的距離，尤其對少數(shù)被試品，測出數(shù)據(jù)就有明顯誤差，經(jīng)過綜合比較，現(xiàn)研制一種新型介質(zhì)損耗測試儀，其原理不改變頻率，能得到50HZ條件下電容值cx及tgδ值，提高測量可靠性和準確性，wan全抑制電場干擾，滿足電場下的使用要求，該儀器體積最小，重量最輕，便于攜帶。有靈活的擴展性，通過接口與計算機連接，使用強大的軟件附件，對儀器升級，人性化設(shè)計，全自動操作本儀器適合500kv及以下電站有干擾現(xiàn)場的試驗。

工作原理：

在交流電壓作用下，電介質(zhì)要消耗部分電能，這部分電能將轉(zhuǎn)變?yōu)闊崮墚a(chǎn)生損耗。這種能量損耗叫做電介質(zhì)的損耗。當電介質(zhì)上施加交流電壓時，電介質(zhì)中的電壓和電流間成在相角差ψ，ψ的余角δ稱為介質(zhì)損耗角，δ的正切tgδ稱為介質(zhì)損耗角正切。tgδ值是用來衡量電介質(zhì)損耗的參數(shù)。
儀器測量線路包括一標準回路（Cn）和一被試回路(Cx)，如圖1所示。標準回路由內(nèi)置高穩(wěn)定度標準電容器與測量線路組成，被試回路由被試品和測量線路組成。測量線路由取樣電阻與前置放大器和A/D轉(zhuǎn)換器組成。
通過測量電路分別測得標準回路電流與被試回路電流幅值及其相位差，再由單片機運用數(shù)字化實時采集方法，通過矢量運算便可得出試品的電容值和介質(zhì)損耗正切值。儀器內(nèi)部已經(jīng)采用了抗干擾措施，保證在外電場干擾下準確測量。

變頻抗干擾介質(zhì)損耗測量儀

技術(shù)指標

準確度：

Cx:±（讀數(shù)×1%+1pF）

tgδ:±（讀數(shù)×1%+0.00040）

抗干擾指標：變頻抗干擾，在200%干擾下仍能達到上述準確度

電容量范圍：

內(nèi)施高壓：3pF～60000pF/10kV 60pF～1μF/0.5kV

外施高壓：3pF～1.5μF/10kV 60pF～30μF/0.5kV

分辨率： zui高0.001pF，4位有效數(shù)字

tgδ范圍： 不限，分辨率0.001%，電容、電感、電阻三種試品自動識別。

試驗電流范圍：10μA～5A

內(nèi)施高壓：設(shè)定電壓范圍：0.5～10kV

zui大輸出電流：200mA

升降壓方式：連續(xù)平滑調(diào)節(jié)

電壓精度：±(1.5%×讀數(shù)+10V)

電壓分辨率：1V

試驗頻率：45、50、55單頻

頻率精度：±0.01Hz

外施高壓：正接線時zui大試驗電流1A，工頻或變頻40-70Hz

反接線時zui大試驗電流10kV/1A，工頻或變頻40-70Hz

CVT自激法低壓輸出：輸出電壓3～50V，輸出電流3～30A

測量時間：約40s，與測量方式有關(guān)

輸入電源：180V～270VAC，50Hz/60Hz±1%，市電或發(fā)電機供電

計算機接口：標準RS232接口

打印機： 煒煌A7熱敏微型打印機

環(huán)境溫度：-10℃～50℃

相對濕度：<90%